Sistema di analisi di composizione superficiale e stratigrafica dei beni culturali tramite “Proton Induced X-ray Emission” (PIXE).
La tecnica PIXE consente misure totalmente non invasive e non distruttive del reperto (senza preparazioni, prelievi di campioni, surriscaldamento o caricamento). Prevede indagini multi-elementali rapide e fornisce informazioni quantitative con alta sensibilità (ppm). Può essere applicata simultaneamente ad altre tecniche di Ion Beam Analisys che forniscono informazioni complementari.
- Acceleratore di protoni di bassa e media energia
- Rivelatore RX caratteristici emessi dal reperto
- Sistema di movimentazione del manufatto
- Dosimetri
- Software di gestione dei parametri sperimentali, di acquisizione dei segnali, di elaborazione dati e spettri.
Nell'ambito del progetto COBRA è stato sviluppato il Dimostratore PIXE basato su acceleratore di protoni
Le principali applicazioni sono volte alla comprensione:
• dei materiali
• della tecnologia produttiva
• dei fenomeni di degrado.
- Reperti dalla collezione di Palazzo Altemps;
- Reperti dalla Necropoli etrusca di Tarquinia.